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自制光束质量分析仪

自制光束质量分析仪

思创精测科技自主研发的光斑分析仪是基于高分辨率CCD和CMOS面阵型光斑测量仪,是一款能够实时测量连续或脉冲激光束的实时诊断系统。

所属品牌: 国产/思创精测

应用类型: 激光量测

产品型号: 参考商品详情

负责人:肖经理

联系电话:13530351649 

电子邮箱:jimmy.xiao@strongprec.com



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思创精测科技自主研发的光斑分析仪是基于高分辨率CCD和CMOS面阵型光斑测量仪,是一款能够实时测量连续或脉冲激光束的实时诊断系统。

所属品牌: 国产/思创精测

应用类型: 激光量测

产品型号: 参考商品详情

负责人:肖经理

联系电话:13530351649 

电子邮箱:jimmy.xiao@strongprec.com



      LaserCheck光斑分析仪

  思创精测科技自主研发的光斑分析仪是基于高分辨率CCD CMOS 面阵型光斑测量仪,是一款能够实时测量连续或脉冲激光束的实时诊断系统。目前包含3个不同型号产品,波长范围覆盖266~1700nm,像素最小达到2.5*2.5μm,探测器面积最大可达25*25mm。LaserCheck系列光斑分析仪不仅能实时显示激光2D/3D图像,导出光强分布数据,且提供激光束参数实时演示和分析能力,具体测量的参数包括:光束直径、光斑的形状、位置、功率、强度分布、椭圆度等众多参数,同时还提供了报表功能,记录光束分析设置和可实现激光光斑质量检测、光斑大小、光斑点稳定性、一维、二维、三维能量分布等多参数测量,纯中文操作界面,直观友好,功能非常强大,目前已得到了广大科研和工业客户的一致认可。为了满足各客户特殊需求,我司还为客户提供定制的光束质量分析和一体化设计解决方案,如焦点分析仪、近场分析仪,且配套各类衰减方案和扩束、缩束模组,满足客户测量上百W功率和不同大小光斑大小的测试要求。


  • 型号参数

型号

BLC-1107

BLC0807

BLC1313

BLC2323

BLC-SWIR-9070

感光⾯

1/1.2“  Si

2/3” Si

1.1”  Si

 SiInGaAs

波⻓范围

300-1100nm

300-1100nm

300-1100nm

300-1100nm

900-1700nm

感光⾯积

11.25mmx7mm

8.45mmx7mm

12.8mmx12.8mm

23mmx23mm

9.6mm*7.68mm

可测尺⼨

58.6um-7mm

34.5um-7mm

25um-12.8mm

45um-23mm

150um-7.68mm

像素⼤⼩

5.86um

3.45um

2.5um

4.5um

15um

分辨率

1920x1200

2448x2048

5120x5120

5120x5120

640x512

位深

10bit

10bit

12bit

12bit

12bit

帧数

10

10

5

5

30

曝光时间

20us-1s

20us 1s

11us 1s

11us 1s

us 到 1s

增益


0 24dB

0 36dB

0 36dB

58dB

触发

软触发/硬触发可选


饱和强度

40μW/cm2@ 633nm, 600μW/cm2@1064nm

0.2 μW/cm2

灵敏度

0.3nw/cm2


⼯作温度

0-50℃

0-50℃

0-45℃

0-45℃

0-50℃

尺⼨

29x29x38mm

29x29x38mm

36x31x38.8mm



相机⼯作模式

CMOS 全局快⻔

CMOS 全局快⻔

CMOS 全局快⻔

CMOS 全局

CMOS 全局

电脑接⼝

USB3.0⽹⼝

USB3.0⽹⼝

USB3.0⽹⼝

⽹⼝

USB


  • 专业分析软件Light Check 功能

1. 配套软件具有自动噪声校准和自动光圈算法。

2. 光斑大小算法包含:D4δ,峰值百分比,能量百分百比,刀口,狭缝等算法。

3. 具有光斑指向稳定性统计计算。

4. 发散角测量。

5. 2D 平顶光斑评价算法。

6. X/Y 高斯拟合。

7. 可存储测量统计数据,X/Y 轮廓数据,灰度图,伪彩色图光斑数据。

8..1D2D3D 光斑能量分布显示

 

 


 



² 配套衰减器(最高功率可测量>1000W)

 

 




² 尺寸