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PHASICS波前分析仪

PHASICS波前分析仪

Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。

所属品牌： 法国/Phasics

应用类型： 激光量测

产品型号： 参考商品详情

负责人：肖经理

联系电话：13530351649 

电子邮箱：jimmy.xiao@strongprec.com



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Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。

所属品牌： 法国/Phasics

应用类型： 激光量测

产品型号： 参考商品详情

负责人：肖经理

联系电话：13530351649 

电子邮箱：jimmy.xiao@strongprec.com



  

  一、产品简介

  PHASICS成立于2003年，从法国科学研究中心LULI实验室分拆出来，技术源于法国国家航天实验室。其独特四波横向剪切干涉技术，克服了夏克-哈特曼技术的限制，具有高分辨率、高动态范围、高稳定性、易使用、零色差等特点。

  Phasics以客户为中心，关心满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能和探索新应用，并根据客户要求定制标准配置。



  二、主要应用

  激光；

  自适应光学及等离子体检测；

  光学元件及光学系统计量；

  微观材料检测。




  三、产品型号


型号

波段

口径

空间分

辨率

相位分辨率

取样分

辨率

绝对

精度

采样

速率

实时处

理速率

特点

SID4-UV-HR

190-400nm

13.8×10.88mm

38.88um

1nmRMS

355x280

10nmRMS

30fps

＞3fps

最低至190nm波长感光灵敏

1nmRMS高相位灵敏度

355x280超高相位取样分辨率

SID4-UV

250-400nm

7.4×7.4mm

29.6um

2nmRMS

250x250

10nmRMS

30fps

＞2fps

250x250超高相位取样分辨率

2nmRMS高相位灵敏度

紫外波段波前测量的通用解决方案

SID4-sC8

400-1050nm

16.61×14.04mm

19.5um

＜1nmRMS

852x720

NA

40fps

10fps

亚纳米级光程差灵敏度

光强及相位即时测量

兼容多种图像采集软件：Metamorph/Micromanager/NIS-Elements等

SID4-Bio

400-1100nm

11.84×8.88mm

取决显微镜放大倍率

＜1nmRMS

400x300

NA

NA

NAfps

独特的即时定量相位成像技术轻巧紧凑

即插即用，易于集成

SID4-HR

400-1100nm

11.84×8.88mm

29.6um

2nmRMS

400x300

15nmRMS

10fps

3fps

400x300超高相位取样分辨率

11.8x8.8mm大分析靶面

可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束

SID4

400-1100nm

4.73×3.55mm

29.6um

＜2nmRMS

160x120

10nmRMS

40fps

＞10fps

2nmRMS高相位灵敏度

400-1100nm工作波长范围内自消色差无需校准

瞬时相位测量，对振动不敏感

可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

SID4-UHR

400-1100nm

15.16×15.16mm

29.6um（可拓展至22.2um）

2nmRMS

512x512

(可拓展至666x666）

15nmRMS

8fps

1fps

超高分辨率

超大靶面分析尺寸:15.16x15.16mm

自消色差

SID4-V

400-1100nm

4.73×3.55mm

29.6um

＜2nmRMS

160x120

10nmRMS

60fps

＞10fps

真空兼容性至10-6毫巴

不受真空环境下热效应和机械效应的影响低放气率

SID4-SWIR

900-1700nm

9.6×7.68mm

120um

＜2nmRMS

80x64

15nmRMS

30fps

7fps

80x64高相位分辨率

高感光灵敏度-可适用于低功率红外光源测试

瞬时相位测量，对振动不敏感

可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

SID4-eSWIR

900-2350nm

9.6×7.68mm

120um

＜6nmRMS

80x64

＜40nmRMS

NA

10fps

0.9至2.35µm扩展波段全覆盖

80x64高相位分辨率

瞬时相位测量，对振动不敏感

可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

SID4-SWIR-HR

900-1700nm

9.6×7.68mm

60um

2nmRMS

160x128

15nmRMS

30fps

7fps

最低至190nm波长感光灵敏

1nmRMS高相位灵敏度

355x280超高相位取样分辨率

SID4-DWIR

3-5um

8-14um

10.88×8.16mm

68um

25nmRMS

160x120

75nmRMS

50fps

＞10fps

400x300超高相位取样分辨率

11.8x8.8mm大分析靶面

可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束

SID4-LWIR

8-14um

16×12mm

100um

25nmRMS

160x120

75nmRMS

24fps

10fps

8-14µm远红外全波段自消色差

非冷却焦平面阵列技术

160x120高相位分辨率

 

  

  四、其它产品

  1)多色动态干涉仪Kaleo MultiWAVE


主要特点：

最高可以集成8个波长

波长可以覆盖紫外到中远红外

透射波前误差和反射波前误差均可测量

纳米级相位分辨率

＞500条纹数超高的动态范围

最高130mm的有效口径


RMS重复精度

＜0.7nm(＜λ/900)

精度

80nm PV

动态范围

500条纹数

可测反射率范围

4%-100%

光学结构

双通道

波长数量

1-2，最高至8

波长范围

193-14um

有效口径

130mm

视场角对准

±2°

可调对角范围

±2.5m


  

  2)全自动镜头质量检测工作站Kaleo MTF

主要特点：

同轴（＜1%）和离轴（＜2%）MTF精确测量

大视场角测量（广角镜头、鱼眼……）

汽车/移动物镜的轻松镜头定位

适应生产环境

  全自动测量，一次采集可以得到完整的测试参数


共轴OPD精度

＜20nmRMS

共轴重复精度

＜0.5%

离轴重复精度

＜1%

MTF最大截止频率

1000lp/mm

EFL重复精度

0.5%

共轴OPD重复精度

＜5nmRMS

光学设置

有限到无限配置

波长

405-940nm,最高8波长

入射直径

最高8.8mm

f#

＞1.7

焦距

5-40mm

法兰焦距

8-33mm

FOV

可至±90°

主射线角

可至50°